AEC-Q101認證包含了分立半導體元件應(yīng)力測試要求的定義和參考測試條件，目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過應(yīng)力測試以及被認為能夠提供某種級別的品質(zhì)和可靠性。

根據(jù)AEC-Q101E-2021新版規(guī)范，認證測試通用項目大大小小算起來共有37項，但并非所有的測試項目都需要測試，需要依據(jù)不同的器件類型，封裝形式，安裝方式等等來選擇要進行的測試項目。

AEC-Q101標準將試驗項目分為5個大組，以某型號SOT23封裝的MOSFET為例，AEC-Q101認證應(yīng)選擇哪些測試項目和條件，以及不選擇此項目的原因說明，以下是按組介紹需要測試項目的清單。

Group A加速環(huán)境應(yīng)力試驗共有10個項目，AC高壓和 H3TRB高溫高濕反偏做為可選項可不用進行，PTC功率溫度循環(huán)在IOL間隙壽命不能滿足才做，TCDT溫循分層試驗和TCHT溫循熱試驗不適用在銅線連接的器件上執(zhí)行測試。

Group B加速壽命模擬試驗共有4個項目，ACBV交流阻斷電壓僅適于晶閘管，SSOP穩(wěn)態(tài)運行僅適于TVS二極管。

Group C封裝完整性試驗15個項目，TS端子強度適用于通孔引線零件的引線完整性，RTS耐溶劑性對于激光蝕刻或無標記器件不用進行。CA恒定加速，VVF變頻振動，MS機械沖擊，HER氣密性這四項適用于氣密封裝的零件。